LET-2000D系列 半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)-云帆興燁

系統(tǒng)概述
LET-2000D系列是力鈦科公司結(jié)合Lecroy的產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9、JESD2標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導(dǎo)體的測試， LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬和測試精度，可以有效準(zhǔn)確的測量出實(shí) 際的器件參數(shù)。

動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢

1.  采用全球最先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計算出參數(shù)

2.  采用全球首先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測試難點(diǎn)

3.  高帶寬的電壓和電流探測，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求

4.  可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

5.  電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展

6.  器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件

7.  系統(tǒng)帶寬：>400MHz

8.  系統(tǒng)可以定制

動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點(diǎn)

 1.  測量參數(shù)齊全：開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、雪崩測試

 2.  支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

 3.  測試方式：單脈沖、多脈沖

 4.  離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析

 5. 測試UI符合工程師的使用習(xí)慣

 6. 測量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展

系統(tǒng)參數(shù)
●  測量電壓：標(biāo)配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升級到10000V。
●  測量電流：標(biāo)配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
●  短路電流：2000A-10000A
●  測量參數(shù)：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測量項(xiàng)目： 開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、雪崩能量測試等
●  測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統(tǒng)帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：20ns~1000us。
●  雙脈沖數(shù)：單脈沖、2-30脈沖
●  測量依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173

LET-2000D的應(yīng)用
? 功率半導(dǎo)體的來料檢驗(yàn)
? 功率半導(dǎo)體的動態(tài)參數(shù)驗(yàn)證
? 實(shí)驗(yàn)室的器件評估
? 實(shí)驗(yàn)室的驅(qū)動設(shè)計改善
? 實(shí)驗(yàn)室的PCB設(shè)計評估
? 功率半導(dǎo)體的生產(chǎn)檢驗(yàn)和篩選

測試項(xiàng)目